Vaisala k-patents®반도체굴절계절계절계절계

ptfe플로우플로우플로우플로우플로우플로우플로우플로우플로우(流动池)본체본체갖춘소형절계절계절계절계。¼-1인치또는피팅의해됨됨됨됨됨됨。

vaisala(바이살라)k-patents®pr-23-ms는는금속부식부품이액체액체와접촉하지된된내장형,초순수,초순수,ptfe ptfe플로우플로우있습니다있습니다있습니다있습니다된모든접수초순수초순수,Ptfe로만들어집니다。분광기재료사파이어입니다。

pr-23-ms는또는피팅직렬로됩니다됩니다。크기가벤치나에통합할있으므로하는공간매우작습니다작습니다작습니다。

용존물질용액굴절률을광학으로하여확인합니다합니다。이원칙어떤화학물질동일기구를사용측정할수있다는점입니다입니다。

pr-23-ms는물질이에연속연속된된된된된된된된또는또는신호와즉각적인인인을을제어제어제어시스템시스템시스템합니다。pr-23-ms는가작아서주입와의의화학물질화학물질혼합,급상승급상승및모니터링을을위한목적으로으로설치가가쉽습니다쉽습니다

Vaisala K-Patents®Pr-23-ms를하면하면

  • 제조공정된물질이유입것막을수있습니다있습니다。
  • 에칭공정화에칭용액용액(예:가열된된에칭용액용액의의의수명늘릴수있습니다있습니다있습니다。
  • 웨이퍼으로으로 +25%늘리고feol및beol세정세정시화학물질(:SC-1또는EKC-265)의의을줄일수수있습니다있습니다있습니다있습니다
  • cmp슬러리철저히하고공정의을수있습니다있습니다있습니다。

주요::

  • 예내내내내의경우일반적으로기준기준기준기준기준기준기준기준기준기준기준기준합니다합니다합니다합니다합니다합니다합니다합니다。여러성분된의경우,측정측정섬역할합니다합니다。
  • core-optics(US6067151)。
  • 이중:한한송신기로개의를할있습니다있습니다있습니다。두번째나중쉽게통합수있습니다있습니다。
  • 공정:-20°C〜150°C(-4°F〜300°F)
  • Pt1000및및보상을빠른측정측정측정측정측정측정측정측정
  • Atex구역II,EX II 3 G EEX NA II T4승인。
  • fm등급i,분류2,그룹a,b,c,d,t6승인。
  • csa등급i,분류2,그룹a,b,c,d,t4인증。
  • ccsaus전기,센서:등급i,오염도3,송신기:등급i,오염도2,설치설치ii인증。
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주요이점

풀디지털장치
vaisala k-patents®반도체pr-33-s는는제어모니터링사용되며이더넷출력신호를합니다합니다합니다합니다합니다합니다。크기가를직렬로장착수있습니다있습니다。
전체범위걸쳐하고안정된측정제공제공
굴절률nd 1.3200–1.5300(0-100%에해당)의폭넓은범위。1.2600–1.4700。R.I. R.I.+ 0.0002(일반적으로기준기준0.1%에)(예:수분hcl)。

ppm범위범위입자,거품,난류또는영향않습니다않습니다않습니다。
쉬운유지보수
내부에받은소자적용적용。
드리프트없음。재보정없음。기계적없음。

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