Vaisala k-Patents®ProzessRaktomterPR-23-W/m

Vaisala k-patents saunders- und teflon-prozessrefraktomter pr-23-w und pr-23-m sindfürdie die messung derflüssigkeitskkeitskonzentrationund-dichte in chemisch aggressive aggressive visressivenlösungenund in hochreinen feinchemikalien feinchemikalien ausgelegt。

Das PR-23-W/M bietet hochpräzise Messtechnik in anspruchsvollen Prozesssteuerungsanwendungen, bei denen herkömmliche Dichtegeräte aufgrund von ungelösten Feststoffen oder Blasen im Prozessstrom Schwierigkeiten haben könnten.dasMessgerätwirddirekt in das prozessrohr oder den-behälterinstalliert and liefert ein kontinuierliches 4- bis 20-ma-oder digitales digitals messsignalfürechtzeit echtzeit-die echtzeit-prozesssteuerung。

DAS重新制度系统besteht aus einem saunders-refraktoter pr-23-w oder teflon-refraktomter pr-23-m und einem einem anzeigemesswertgeber。

  • 达斯Saunders-Prozessrefraktomer Pr-23-W在GroßenRohrleitungen(Durchmesser 50,80 Oder 100毫米)Konzipiert中的DerGroßserienfertigungund中的IstFürDenEinsatz。

    Das Pr-23-W Wird Mit Einem Saunders-Ventilgehäuse(diaphragm)geliefert和Ein Vertikales Oder Horizo​​ntales Rohr Montiert Werden中的Kann Entweder。Das Saunders-GehäusematialialBesteht Aus Grushit-Grauguss,Das Eine Massive Meginische Basic Bietet,und Die pfa-auskleidung stellt die die chemischebeständigkeitSicher。Die Restlichen Benetzten Teilematerialien des Sensors SindTeflon®,Saphir(Al2O3),Kalrez®und Spinell(MGAL2O4),Die Eine Ausgezeecheichnete chemische chemische und MechaniScheeScheeScheeScheeScheeSchendigkeit Bieten。Die Sensorabdeckung Besteht Aus Edelstahl Aisi 316L。

  • 达斯Teflon-Prozessrefraktomer Pr-23-miSt ein kompaktes refraktometerfürkleineRohrgrößen。EsWirdüberEING1/2-Zoll-InnegeWinde Oder Einen 1/2-Zoll-npt-npt-prozessanschluss mit mit dem dem dem dem dem dem dem verbunden unt kann unt kann unt kann intweder in ein vertikales oder oder oder horizyles rohr montiert rohr montiert werden。Das refraktomerverfügtübereine Integrierte durchflusszelle,die verhindert,dass Metallteile und Korrodierende teile teile mit der der derprozessflüssigkeit在Kontakt Kommen。Alle Benetzten Teile Sind Metallfrei und Bestehen Aus Metitalien Wie Ptfe(Teflon®)Oder PVDF(Kynar®)。死去SorgtFürKorrosionsbeständigkeit。

DAS恢复仪系统Bietet DualeKonnektivität,d。H。Ein Messwertgeber Kann Zwei Sensoren Betreiben。EIN Zweiter传感器KannNachträglichQualitylos Integriert Werden。

der Messbereich umfasst 0 BIS 100%Pro Gewicht。die genauigkeitbeträgt典型Cherweise±0.1%pro gewicht,und die messung wird wird wird automatisch tempaturkompensiert。AlarsefürNiedrige和Hohe KonzentrationenKönnenKonfiguriert Werden。

Jeder传感器Wird Mit Einem Kalibrierzertifikat Geliefert,Das Eine Reihe VonStandardflüssigkeitenMit derTatsächlichenSensorausgabe Vergleicht。kalibierung und genauigkeit lassen sich vor ort mit den zertifiziertenbrechungsindexflüssigkeitenüberprüfen。

eigenschaften
Universelle Kalibierung jedes传感器:All Sensoren Sind Untereinander seliebig Austauschbar。
Voller Messbereich des Brechungsindex(nd)1,3200 bis 1,5300,为0 bis 100%pro gewicht entspricht。
DualeKonnektivität:Ein Messwertgeber Kann Zwei Sensoren Betreiben。EIN Zweiter传感器KannNachträglichQualitylos Integriert Werden。
VollständigDigitales系统:Partikel und BlasenBeeinträchtigenweder betrieb noch genauigkeit。
Core-Optik:Keine Abweichungen,Keine Neukalibrierung,Keine Mechanischen Justierungen。
以太网 - verbindung und RemoteDienfeldfürdatenprotokollierung und fernbetrieb。
Benetzte PR-23-W Sensororkomponenten:Teflon®,Saphir(Al2O3),Kalrez®und Spinell(Mgal2O4)Weisen Eine eine ausgezeeichnete chemische chemische undeissche undienschebeständigkeitauf。Benetzte PR-23-M SensororKomponenten:Teflon®PtfeOderKynar®PVDF(Polyvinylidenfluorid),PrismadichtungTeflon®Ptfe,Prismasaphir,O-Ring Kalrez,Adapter saphirter Saphirs
Prozesstemperaturbereich:-20…+130°C
Schnelle Prozesstemperaturmessung durch eingebauten pt1000 und自动化温度。
Einfachekalibrierüberprüfungmit标准 - 布雷申氏菌sigkeiten和einemintemeriertenüberprüfungsverfahrenas kundenstandstort。Einfachekalibrierüberprüfungmit标准 - 布雷申氏菌sigkeiten和einemintemeriertenüberprüfungsverfahrenas kundenstandstort。
Atex-Zulassungfür第二区,Gebietsklallizierung Ex II 3 G EEX NA II T4。
Atex-ZulassungfürZonen 0 UND 1,Gebietsklallizierung atex II 1G EAIC IIC T4(Nur eigensicheres pr-23-w-ia oder pr-23-m-ia pr-23-m-ia mit str str str str strMesswertgeberfürfüreinen传感器)。
FM-ZulassungFürKlasseI,Div。2,Gruppen A,B,C UND D,T6。
CSA-ZERTIFIZIERUNGFürKlasseI,Div。2,Gruppen A,B,C UND D,T4。
CCSAUS-ZERTIFIZIERUNGFürElektrischeSicherheit,传感器:Klasse I,Verunreinigungsgrad 3;Messwertgeber:Klasse I,Verunreinigungsgrad 2;安装Kategorie II。
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Hauptvorteile

fürraue umgebungen konzipiert
Im Vaisala k-Patents ProzessRefraktomter PR-23-W/M Werden Fortschrittliche CCD-Kameratechnologie Mit Ausgezeeichneter chemischer chemischerbeständigkeitfürungerßserienfertigungundkleine undkleine undkleine rohine rohrgrgrgrgrgrgrgrgrouscomenkombiniert。Die SensorenSindFürAnspruchsvolleProzessbedingungen,Hohe tempaturen,Druck und Ectrationen Ausgelegt。
Einfach undkostengünstigZu Montieren和Zu Betreiben
der hauptverarbeitungsleitung oder -umgehungsleitungüberein saunders-ein saunders-ventil oderteflongehäuseteflongehäuseMontiert中的das prozessrefraktomer pr-23-w/m wird。

DAS PR-23-W/M UMFASST EINE以太网 - basiertekommunikationslösung,die den anschluss a computernetzwerke und and das Internetermöglicht。überdieseschnittstelleKönnenechtzeit-messdaten und diagnoseinoformationen abgerufen werden。dadurch ist es auch ein wertvolles serviceToolfürparameteränderungen和softwareupdates。

DAS折射帽帽子keine lampen oder beweglichen teile,eineregelmäßigewartung oder neukalibierung erfordernwürden。benutzer*innenKönnenes einfach„ installieren und vergessen“ und erreichen so niedrige gesamtbetriebskosten。
Genau undZuverlässig
Die Messung Mit Dem K-Patents Prozessrefraktomer Pr-23-W/m Basiert Auf Einer Einzigartigen Technologie。dabei kommen halbleiteroptik和eine ccd-kamera zum einsatz,um eine digitale messungsungs messung des brechungsindex bereitzustellen。Die Messgenauigkeitbeträgt±0,0002 ri(Entspricht±0.1%Pro Gewicht)。

aufgrund digitalen sensortechnik beeinflussen selbstgroßeMengena schwebstoffen,蓝色oderfarbveränderungenweder die messung noch noch die genauigkeit。