Elintarvikeala

Hygieeniset Vaisala K-PATENTS® -refraktometrit mahdollistavat tarkat Brix-arvon, kuiva-aineen kokonaismäärän, Plato-arvon, Oechsle-arvon, tiheyden ja pitoisuuden mittaukset suoraan prosessista hygieenisissä nestemäisten elintarvikkeiden ja juomien prosessisovelluksissa sekä täyttölinjojen ja sivuvirtojen hallinnassa.