案件

OLED研究中的露点监测

VAISALA DMT152探针
Kuyshu大学
日本
发布: 2010年9月12日
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未来化学中心Kuyshu大学的Adachi实验室正在使用Vaisala Dewpoint发射机来监测用于研究有机半导体设备的杂物盒中的H2O PPM水平。来访的副教授(ISIT)Masayuki Yahiro接受了有关该主题的采访。

Kuyshu大学的Adachi实验室,未来化学中心

最近,有机光电设备的研究领域引起了很多关注。这是由于有机光发射二极管(OLEDS)的实际实现,预计将用于下一代照明和展示技术。

需要精确的H2O测量

有机半导体设备的研发需要精确的PPM级H2O测量。众所周知,OLED和有机薄膜太阳能电池等有机半导体设备对H2O非常敏感。在此过程中,OLED寿命严重缩短了水,如果H2O水平不够低,则有机薄膜太阳能电池的效率较低。

Adachi实验室是日本研究光电设备的顶级机构之一。研究领域包括有机光电设备,有机半导体元件的组成,这些元素对薄膜设备的适应以及对设备物理的澄清。

该实验室正在积极参与行业政府 - 学院合作。它们还是一个名为Nedo(新能源和工业技术开发组织)豆(Bio机电自动纳米系统)的国家项目的一部分。

来访的副教授(ISIT)Masayuki Yahiro发现VaisalaDrycap®Dewpoint发射机DMT152有益:


“ DMT152非常易于使用且方便,它具有良好的公差室状况高湿度。我们在有机溶剂(例如氯苯,甲苯和二甲苯)的大气中使用DMT152。未发现对传感器的影响。我们从来没有这个传感器有任何问题。DMT152不仅适用于OLED过程,不仅研究,而且还适用于生产过程。我希望该传感器将其作为标准安装包含在手套箱中。”

教授(ISIT)Masayuki Yahiro找到VaisalaDrycap®Dewpoint发射器DMT152有益

低露点的准确和可靠的测量(H2O PPM水平)

VAISALADRYCAP®DEWPORT发射器DMT152是用于露点测量的薄膜传感器。它可以以高精度的高度降低至-80°C TD(小于1 ppm的水)。VAISALADRYCAP®传感器对颗粒污染,水冷凝和大多数化学物质免疫。这意味着发射器在杂物箱中具有良好的耐受性,用于处理有机半导体设备和几种有机溶剂。

DMT152机械师是为需要防止灰尘,污垢和溅水的防护环境而设计的。VaisalaDryCap®技术由于其出色的长期稳定性和耐用性而具有较低的维护需求。
The recommended calibration interval is 2 years.

灵活的安装

Vaisala DeWpoint发射器DMT152具有几种不同类型的安装配件,螺钉和法兰,从而易于更换可能已经安装在杂物箱中的任何发射器。

挑战 解决方案 益处
需要在房间条件下进行快速响应时间的测量仪器
干燥环境
VaisalaDryCap®的干燥时间非常快,并且不会以任何方式损坏
根据高湿度条件
多功能解决方案可确保适当的OLED开发过程条件
测量仪器必须适合于便携式使用和永久安装 VaisalaDryCap®露点发射机DMT152仅长12厘米,仅重190克。它可以永久安装或方便地连接到电池操作的显示器,并具有图形和数据记录功能 长期可靠性,消除了恒定维护的需求
测量工具必须提供长期准确性 DMT152的建议校准间隔为2年