Vaisala K-Patents®分号折光仪PR-33-S

半导体液体化学过程的超纯修饰PTFE流动池的紧凑型折射仪。通过¼-1英寸的支柱或耀斑配件连接到该过程。

VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-33-S监测清洁室环境中的Fab Chemicals的浓度和集成的工艺工具(混合,清洁,蚀刻和CMP)。

PR-33-S由一个超纯的,修改的PTFE流动池和任何标准POE(电力范围内的)开关都可以用来将电源传输到传感器和数据到计算机的以太网电缆。PR-33-S实时监测化学浓度,并提供以太网输出信号和立即反馈,如果化学不合格。例如,低浓度警报可能被配置为控制和增加浴室寿命。通过对溶液的折射率和温度进行光学测量来确定浓度。

PR-33-S用耀斑或柱子的配件直接安装在线安装。PR-33-S具有紧凑的无金属结构,只需要一个小的占地面积。

关键元素:

  • N.I.S.T.可追溯校准,标准R.I.液体的验证和经过验证的程序。
  • 获得专利的核心(美国专利号US6067151)。
  • 通过以太网进行远程面板,用于数据遗传和远程操作。
  • 通信是由标准UDP/IP协议构建的。
  • 工艺温度范围:-20°C - 85°C(-4°F - 185°F)。
  • 通过内置PT1000和自动数字温度补偿进行快速处理温度测量。
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关键好处

完全数字设备
Vaisala K-Patents®分号折光仪PR-33-S用于过程控制和监视,并提供连续的以太网输出信号。紧凑的设计,设备直接在线安装。
整个范围内的准确稳定测量
折射率和1.3200–1.5300的完整测量范围,相当于重量为0-100%。可选范围ND 1.2600–1.4700用于强HF。典型的准确性R.I.+ 0.0002,通常对应于0.1%,例如用于水中的HCl。

测量不受PPM范围内颗粒,气泡,湍流或杂质的影响。
易于维护
没有漂移。没有重新校准。没有机械调整。

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