VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-23-MS

带有超纯的修饰PTFE流动池的紧凑型折射仪,用于半导体液体化学过程。通过¼-1英寸的支柱或耀斑配件连接到该过程。

VAISALA K-PATENTS®分号折光仪PR-23-MS具有内置的,超纯的,改良的PTFE流动池,旨在防止所有金属和腐蚀零件与工艺液体接触。所有润湿零件均由超纯净的修饰PTFE制成。棱镜材料是蓝宝石。

PR-23毫秒直接使用支柱或耀斑装配直接安装。紧凑的设计允许将其集成到湿长凳或橱柜中,在橱柜中,对脚部打印区域的需求非常低。

溶解的固体浓度是通过对溶液的折射率进行光学测量来确定的。该原则的优点是可以使用相同的仪器来测量任何化学物质。

如果化学物质不在规格范围内,则PR-23-MS提供连续的4-20 MA或数字测量信号,并立即对控制系统的反馈。PR-23-ms物理上是一种小型设备,易于安装在散装化学物质中,并且在使用化学混合,尖峰和监测应用中。

使用Vaisala K-Patents®Pr-23-ms,您可以:

  • 防止错误的化学物质进入制造过程。
  • 优化蚀刻过程并增加蚀刻溶液的浴寿命(例如加热KOH)。
  • 将晶圆吞吐量通常增加 +25%,并减少Feol和Beol清洁中的清洁化学消耗(例如SC-1或EKC-265)。
  • 严格控制CMP浆液和平面化过程的更好均匀性。

主要特点:

  • 典型的精度为0.1%,重量,例如用于水中的HCl。对于多组分解决方案,测量信号可作为校验和验证。
  • 获得专利的核心(美国专利号US6067151)。
  • 双连接性:一个发射器可以操作两个传感器。稍后可以轻松地集成第二个传感器。
  • 工艺温度范围:-20°C - 150°C(-4°F - 300°F)
  • 通过内置PT1000和自动温度补偿的快速处理温度测量。
  • ATEX批准了第二区,区域分类EX II 3 G EEX NA II T4。
  • FM批准为I级Div。2,A组,B,C和D,T6。
  • CSA获得了I类,Div。2,A组,B,C和D,T4。
  • CCSAU获得电气安全性认证,传感器:I类,污染物。3;发射器:I类,污染物。2;安装猫。ii。
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关键好处

完全数字设备
Vaisala k-Patents®分号折光仪PR-33-S用于过程控制和监视,并提供连续的以太网输出信号。紧凑的设计,设备直接在线安装。
整个范围内的准确稳定测量
折射率和1.3200–1.5300的完整测量范围,相当于重量为0-100%。可选范围ND 1.2600–1.4700用于强HF。典型的准确性R.I.+ 0.0002,通常对应于0.1%,例如,例如用于水中的HCl。

测量不受PPM范围内颗粒,气泡,湍流或杂质的影响。
易于维护
没有漂移。没有重新校准。没有机械调整。